機器（委託対応）の詳細情報
Detailed Information of Equipment(Job Request)
＜利用上の注意事項＞
【お知らせ】≪担当者変更：2022/04/01≫
2022/4より担当者変更となりました。
・機器利用：熟練者のみ予約可
・機器講習：メールにてご相談ください。
・委託利用：停止。
測定においてスキャナーを交換する必要がある場合は、前日か当日にご連絡ください。
| 機器情報（対応情報） Equipment and Job Request Information | |
|---|---|
| 部署 Affiliation | 研究基盤総合センター 分析部門 Chemical Analysis Div., Research Facility Center for Science and Technology |
| カテゴリー Category | 専用測定装置 Limited Purpose Equipment |
| 機器名（委託内容） Equipment (Job Request) | 走査型プローブ顕微鏡(SPM)E-sweep Snanning Probe Microscope(SPM)E-sweep |
| メーカー（型式） Supplier (Equipment type) | 日立ハイテクサイエンス(E-sweep) Hitachi High-Tech Science (E-sweep) |
仕様・特徴 Specification・Features |
走査型プローブ顕微鏡（SPM）は、プローブ（探針）と試料間に作用するさまざまな物理量を検出し、微小領域の表面形状や物性を測定する顕微鏡の総称であり、基本的な走査モードとして、原子間力顕微鏡（AFM）やダイナミックフォースモード（DFM）、凹凸の大きい試料の測定に適したSISモードを備えている。多機能モードとして、摩擦力顕微鏡（FFM）、磁気力顕微鏡（MFM）、表面電位顕微鏡（KFM）、圧電応答顕微鏡（PRM）、電流同時AFM（Nano/Pico Current AFM）、走査型トンネル顕微鏡（STM）がある。本装置には環境制御機能が搭載されており、真空中、液中、温度制御、湿度制御が可能である。また試料とカンチレバーをセットし必要なセットアップを行った後に1クリックでイメージを自動測定するRealTune機能がある。 【試料サイズ】 高さ ・・・ 9 mm以内 幅 ・・・ 30 mm以内 【最大走査範囲／垂直最大可動範囲】 20 µmスキャナー使用時 ・・・ XY: 20 µm × 20 µm／Z: 約1 µm 100 µmスキャナー使用時 ・・・ XY: 100 µm × 100 µm／Z: 約10 µm 設置年月日2013.9.10 A scanning probe microscope (SPM) is a generic term for microscopes to detect various physical quantities acting between the probe and the sample and to measure the surface profile and properties of a micro-area. The basic scanning modes include atomic force microscopy (AFM) and a dynamic force mode (DFM)，and the ”SIS mode” suitable for measurement of high aspect samples. The multifunction modes include friction force microscopy (FFM), magnetic force microscope (MFM), Kelvin force microscopy (KFM), Piezo-response microscopy(PRM), nano/pico current AFM, and scanning tunneling microscopy (STM). This instrument is equipped with environment control, which can control temperature and humidity in a vacuum and in a liquid. The machine has a ”RealTune” function that automatically sets the image with 1 click after setting the sample and the cantilever and making necessary setup. [Sample size] Height ･･･ 9 mm or less Width ･･･ 30 mm or less [Maximum in-plane scan range/maximum vertical displacement] When a 20 µm scanner is used ･･･ XY: 20 µm × 20 µm/Z: approx. 1 µm When a 100 µm scanner is used ･･･ XY: 100 µm × 100 µm/Z: approx. 10 µm Date of installation: March 11, 2010 |
| 設置場所 Installation site | 研究基盤総合センター 分析部門 ２０７室 Research Facility Center for Science and Technology,Chemical Analysis Division 207 |
| 備考 Remark |
＜共同利用の前に＞ 相談窓口より利用相談をしていただき、分析部門利用に関するガイダンスと装置の取り扱い講習を受講して下さい。 ＜委託分析の場合＞ 相談窓口からお問合わせ下さい。 ＜使用時間について＞ 利用時間は、平日の9時～17時です。 ＜カンチレバーの購入＞ 測定に使用するカンチレバーは、利用方法により交換時期や摩耗度合いが異なりますので、各自で持参して頂いております。 なお、分析部門では標準品のカンチレバーを数種類用意しておりますので、利用料金とは別に1本ずつ買い取って使用して頂くことも可能です。 分析部門からのカンチレバー分譲価格： 種類により税込3,600円/1本～となっております。 メーカー販売品：https://www.hitachi-hightech.com/hhs/support/service/maintenance/spm/consumables.html ＜使用上の注意＞ ・分析データは即日、利用者各自でコピーして持ち帰ること ・データは部門のPCには残さず、原則、その場で消去すること ・1ヶ月以上残されたデータに関しては、定期的にこちらで消去させて頂きます ＜利用時の免責＞ 以下の免責に同意の上、ご利用ください。 ・得られたデータ等は保証しません。 ・共同利用等の利用により発生した損害又は損失については、本学はいかなる責任を負わず、損害賠償義務は一切ないものといたします。 ＜測定試料について＞ 以下に該当がないことをご確認ください。 ・放射性物質、ダイオキシン類、アスベスト等の有害物質ではないこと ・爆発性ではないこと ・悪臭を発しないこと ・毒性はないこと ・揮発性ではないこと ・消防法（昭和２３年法律第１８６号）で定義される危険物第１類から第６類までに含まれないこと ・試料としての検体に病原微生物等は含まれないこと ※共同利用の際は、上記に該当する可能性がある場合、必ず予約申込時に連絡事項欄へのご入力をお願いいたします。 |
| 主な研究成果 Research Accomplishment | |
| 相談窓口 Inquiry | 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。 |
| 機器担当者 |
担当者：佐藤 |
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利用単価
University-wide Shared Use Rate |
単価 A: 1,670 円 / 30分 |
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委託単価
University-wide Job Request Rate |
5,330 円 Yen / 時間 hr. |
| 写真 Picture |
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