機器（委託対応）の詳細情報
Detailed Information of Equipment(Job Request)
＜利用上の注意事項＞
2020. 6. 24現在、装置利用可能となっております。
直近14日間、平熱が保たれ風邪症状がない方のみ、入室を許可をします。
実験室では、必ずマスクを着用してください。
入室前後で手洗いと手の消毒をしてください。
何卒ご理解いただきますようお願い申し上げます。
| 機器情報（対応情報） Equipment and Job Request Information | |
|---|---|
| 部署 Affiliation | 数理物質系 マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM） Faculty of Pure and Applied Sciences (ARIM) |
| カテゴリー Category | 電気特性評価装置 Electrical Measurement System |
| 機器名（委託内容） Equipment (Job Request) | (ARIM)半導体特性評価システム B1500A (ARIM)Electrical Measurement System B1500A |
| メーカー（型式） Supplier (Equipment type) | Agilent (B1500A) Agilent (B1500A) |
仕様・特徴 Specification・Features |
半導体デバイス・アナライザは、IV測定、CV測定、高速パルスドIV測定に対応。 IV測定 範囲；0.1fA～1A/0.5μV～200V タイムサンプリング；100μs パルス最小測定幅；100μs(MCSMU) 容量測定 周波数範囲；1kHz～5MHｚ パルスド測定 波形生成分解能；10ns 測定分解能；5ns The semiconductor device analyzer for the IV measurement, the CV measurement, the high-speed pulsed IV measurement. IV measurement Range; 0.1 fA - 1 A/0.5μV - 200 V Sampling time; 100μs Minimum pulse; width, 100μs(MCSMU) Capacity measurement Frequency range; 1 kHz - 5 MHz Pulsed measurement Wave pattern generation resolving power; 10 ns Measurement resolving power; 5 ns |
| 設置場所 Installation site | 総合研究棟B0022室 Laboratory of Advanced Research B0022 |
| 備考 Remark | |
| 主な研究成果 Research Accomplishment | |
| 相談窓口 Inquiry | 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。 |
| 機器担当者 |
担当者：ARIMスタッフ 所属：数理物質系 マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM） |
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利用単価
University-wide Shared Use Rate |
500 円 Yen / 30 分 30 min. |
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委託単価
University-wide Job Request Rate |
5,000 円 Yen / 時間 hr. |
| 写真 Picture |
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