機器（委託対応）の詳細情報
Detailed Information of Equipment(Job Request)
＜利用上の注意事項＞
2024.9.27修理完了しました。10月からご利用いただけます。
再発防止のため、当面の間はスタッフがカンチレバーの取り付けを行います。
| 機器情報（対応情報） Equipment and Job Request Information | |
|---|---|
| 部署 Affiliation | 数理物質系 マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM） Institute of Pure and Applied Sciences (ARIM) |
| カテゴリー Category | 専用測定装置 Limited Purpose Equipment |
| 機器名（委託内容） Equipment (Job Request) | (ARIM)走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM) Dimension Icon (ARIM)Scanning Probe Microscope (SPM/AFM) Dimension Icon |
| メーカー（型式） Supplier (Equipment type) | Bruker (Dimension Icon) Bruker (Dimension Icon) |
仕様・特徴 Specification・Features |
＜Dimension Icon＞ 大型試料測定,高分解能,操作性,多機能,拡張性に優れたAFM。大気中,液中での物質表面の凹凸の評価及び、弾性率,吸着力,変形,散逸エネルギーなどのナノ機械特性も取得可能。 ※MultiMode 8は故障中のため使用不可。 Surface irregularity evaluation and nano-mechanical characteristics such as the coefficient of elasticity, the sticking force, the transformation, and the dissipation energy, can be obtaied in the atmosphere and liquid environment. MultiMode 8 PeakForce QNM with the quantitative mechanical properties mapping function is equipped in MMAFM type high resolution AFM. Dimension Icon Superiority in large-scale sample measurement, high resolution, operability, multifunctionality, extensibility. The closed loop scanner exhibits the super low noise and the low drift. |
| 設置場所 Installation site | 共同研究棟C 104室 Cooperative Research Building C 104 |
| 備考 Remark | 月～金曜日 9:00～17：00 |
| 主な研究成果 Research Accomplishment | |
| 相談窓口 Inquiry | 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。 |
| 機器担当者 |
担当者：ARIMスタッフ 所属：数理物質系 マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM） |
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利用単価
University-wide Shared Use Rate |
単価 A: 1,740 円 / 30分 |
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委託単価
University-wide Job Request Rate |
9,000 円 Yen / 時間 hr. |
| 写真 Picture |
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