機器（委託対応）の詳細情報
Detailed Information of Equipment(Job Request)
| 機器情報（対応情報） Equipment and Job Request Information | |
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| 部署 Affiliation | 数理物質系 Institute of Pure and Applied Sciences |
| カテゴリー Category | 電気特性評価装置 Electrical Measurement System |
| 機器名（委託内容） Equipment (Job Request) | (パワエレ共用)極低温プローブステーション CMPS-308-4K-6P-20 Cryogenic Probe station CMPS-308-4K-6P-20(Power Electronics) |
| メーカー（型式） Supplier (Equipment type) | Toki Commercial Co., Ltd. CMPS-308-4K-6P-20 Toki Commercial Co., Ltd. CMPS-308-4K-6P-20 |
仕様・特徴 Specification・Features |
特徴 ・ 安全かつ簡便に極低温の測定環境を実現する極低温プローバーです。機械式冷凍機を用い、液体冷媒を一切使用せず、必要な時に温度域 5K台～300Kの測定環境を得ることが出来ます。 ・ さまざまな試作デバイスを極低温（数K）から室温に至る広い温度領域での電気特性を低ノイズ状態で測定できます。極低温下で動作するデバイスの原理解明や新たなデバイス作製のお役に立ちます。 ・ 本学ARIMの半導体特性評価システム B1500A（https://openfacility.sec.tsukuba.ac.jp/public_eq/front.php?cont=eq_detail&id=306）を使用することにより、I-V、C-V特性の測定もできます。また、ご使用者様が測定装置を持ち込むことも可能ですので、使い慣れた計測機器での測定もできます。 仕様 ・ 温度安定性：±0.2K以下、電流ノイズ：±50fA以下、リーク電流：±50fA以下、ホルダー振動値：±2μm以内. ・ 常設測定器：B2912A （2ch SMU, 10fA, 210V）. 取得年月日 2014.3.27 [Features of the apparatus] ・ The cryogenic probe station to achieve a safe and simply cryogenic environment. In this prober enables us to control temperature in the range of 4.2 K to 300 K with cryogenic refrigerator without using any liquid helium and the temperature stability is ±0.2 K. ・ You can measure the electrical characteristics of low noise conditions various prototype devices in a wide temperature (4.2K - 300K) range. ・ Measurement of I-V and C-V characteristics is also possible by connecting B1505A (Power device analyzer). Though, the optional connector is required. In addition, the user can also bring measuring equipment. B2912A is installed as a standard measuring instrument. [specification] ・ Measured temperature range : 4.2K - 300K, Temperature Stability : ±0.2K, Measurement noise : < ±50fA, Quantity of vibration sample stage : < ±2μm. Date of acquisition : 27th Mach 2014 |
| 設置場所 Installation site | 総合研究棟B0022室 Laboratory of Advanced Research B0022 |
| 備考 Remark |
・本装置の利用は、講習を受講された方に限らせて頂きます。（講習を受講される場合は、別途講習料が必要となります。） ・半導体特性評価システム（B1500A）をご使用の方は併せてご予約下さい。 ・測定機器の持ち込みも可能です。 ・利用日の２ヶ月前から予約できます。 ・消耗品・試薬等は各自でご準備下さい。 ・ 初めて利用を検討される方はまず，「利用相談」にてお問い合わせ下さい。担当スタッフより回答いたします。 ・ パワエレ共用機器室を利用するには、総合研究棟B 0022室に入室するためのICカードが必要です。機器をご利用の際は、担当者にお申し出ください。 |
| 主な研究成果 Research Accomplishment | |
| 相談窓口 Inquiry | 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。 |
| 機器担当者 |
担当者：矢野 所属：数理物質系 |
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利用単価
University-wide Shared Use Rate |
単価 A: 660 円 / 30分 |
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委託単価
University-wide Job Request Rate |
2,640 円 Yen / 時間 hr. |
| 写真 Picture |
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