機器（委託対応）の詳細情報
Detailed Information of Equipment(Job Request)
＜利用上の注意事項＞
≪お知らせ≫≪その他≫
・機器管理のためエアコンを常時起動しています。夏期は特に温度管理をお願いいたします。
もし機器の真空度が低下した場合、緊急メンテナンスに入る場合がありますのでご了承ください。
部屋が寒い場合がありますので、上着をお持ちいただく等よろしくお願いいたします。
・元素マッピング分析など、長時間分析に関しては、事前にご相談ください。測定開始→自動測定→測定終了→サンプル取り出し・データ分析等、機器占有中全て予約が必要です。
・メンテナンスを行ったため、右記前に検量線を作成した方は、次回使用時に検量線を作成しなおしてください。：2023/10/13
≪初めて御利用の方へ≫
・機器利用希望の前に、上部「利用方法」の欄を十分お読みください。
「利用者申請」→「審査」→「小テスト」→「講習」→「承認」となります。
機器の予約が1週間程度埋まっている場合も多く、講習は2週間後の案内になることもございます。余裕をもってお申し込みください。
また、事前にメールにてサンプルの測定可否に関して十分ご相談ください。
≪委託分析≫
お急ぎのご依頼はお控えください。サンプル事前相談・予約状況確認・他業務都合の調整により、測定日が二週間後などになる可能性があります。
| 機器情報（対応情報） Equipment and Job Request Information | |
|---|---|
| 部署 Affiliation | 研究基盤総合センター 分析部門 Chemical Analysis Div., Research Facility Center for Science and Technology |
| カテゴリー Category | 電磁気分析装置 Electromagnetic Analyzers |
| 機器名（委託内容） Equipment (Job Request) | 電子プローブマイクロアナライザ（EPMA) Electron Probe Microanalyzer JXA-8530F(EPMA) |
| メーカー（型式） Supplier (Equipment type) | JEOL社製 JXA-8530F Electron Probe Micro Analyzer JEOL (JXA-8530F Electron Probe Micro Analyzer) |
仕様・特徴 Specification・Features |
電子プローブアナライザー（EPMA）とは、電子線を試料表面に照射した際に発生する特性X線の波長と強度を測定することにより，固体試料表面の微小部位の構成元素の元素分析や観察を非破壊で行うことができる装置である．本装置は，フィールドエミッション（FE）電子銃を搭載しており，1μm以下の微小部位の元素分析も可能である．金属，岩石，セラミックス，半導体などの広い分野の元素分析や微細組成の分析に用いられる． 【分析元素範囲】B – U 【加速電圧】1 – 30kV 【照射電流範囲】10-12 – 5x10-7A 【走査倍率】40 – 300,000倍 設置年月日2010.3.11 This is an instrument to analyze and observe constituent elements in a micro-area on the surface of a solid sample by measuring the wavelength and intensity of characteristics X-rays generated when an electron beam is directed at the surface of the sample. This instrument is equipped with a field emission gun (FE) and is able to perform elemental analysis of a microscopic area of 1 μm or smaller. The analyzer is used for element analysis and microstructure observation in a wide variety of fields, including metals, rocks, ceramics, and semiconductors. [Range of elemental analysis] B-U [Accelerating voltage] 1-30 kV [Range of illumination current] 10-12 - 5x10-7A [Scanning magnification] 40-300,000 Date of installation: March 11, 2010 |
| 設置場所 Installation site | 研究基盤総合センター 分析部門 ２０６室 Research Facility Center for Science and Technology,Chemical Analysis Division 206 |
| 備考 Remark |
《共同利用の前に》 利用相談をしていただき，分析部門利用に関するガイダンスと装置の取り扱い講習を受講して下さい． 《委託分析の場合》 相談窓口からお問合わせ下さい． 本機器における委託分析とは、操作のみ機器担当者で行い、その他の前処理・場所指定・条件指定等は全て依頼者の方が行ってもらうものです。料金も異なりますのでご確認ください. サンプルの測定可否含め、事前に十分御相談の上分析依頼をお願いいたします。 また、測定日に関しては、機器の予約状況・担当者の業務都合により、直近の指定が難しい場合がございます。 《予約について》 予約における機会均等を図るため，予約は原則１人１日／週です． 但し，１週間前になって空きがある場合には，上記の制限を越えて予約することも可能です． 《利用時間について》 利用時間は原則平日の9時〜17時です． 《使用上の注意》 ・分析データは即日、利用者各自でコピーして持ち帰ること ・データは部門のPCには残さず、原則、その場で消去すること ・1ヶ月以上残されたデータに関しては、定期的にこちらで消去させて頂きます ＜利用時の免責＞ 以下の免責に同意の上、ご利用ください。 ・得られたデータ等は保証しません。 ・共同利用等の利用により発生した損害又は損失については、本学はいかなる責任を負わず、損害賠償義務は一切ないものといたします。 ＜測定試料について＞ 以下に該当がないことをご確認ください。 ・放射性物質、ダイオキシン類、アスベスト等の有害物質ではないこと ・爆発性ではないこと ・悪臭を発しないこと ・毒性はないこと ・揮発性ではないこと ・消防法（昭和２３年法律第１８６号）で定義される危険物第１類から第６類までに含まれないこと ・試料としての検体に病原微生物等は含まれないこと ※共同利用の際は、上記に該当する可能性がある場合には、必ず予約申込時に連絡事項欄へのご入力をお願いいたします。 |
| 主な研究成果 Research Accomplishment | |
| 相談窓口 Inquiry | 利用相談はこちらより必要事項をご記入の上、お問い合わせください。 |
| 機器担当者 |
担当者：佐藤 |
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利用単価
University-wide Shared Use Rate |
単価 A: 2,170 円 / 30分 |
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委託単価
University-wide Job Request Rate |
6,410 円 Yen / 時間 hr. |
| 写真 Picture |
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